MountainsMap

MountainsMap
Développeur	Digital Surf
Dernière version	6.0 (1er septembre 2010) [+/−]
Environnements	Windows XP,Vista et Windows 7
Type	Logiciel scientifique
Licence	Propriétaire
Site web	(en)www.digitalsurf.com
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MountainsMap est un logiciel de micro-topographie édité par la société Digital Surf.

La micro-topographie est la science de la mesure et de l'analyse de l'état de surface et de la forme en 3D à l'échelle microscopique. Le logiciel est utilisé comme composant des profilomètres à stylet ou sans contact, des microscopes optiques, et des microscopes en champ proche (SPM).

MountainsMap est diffusé principalement sous la forme d'un composant optionnel ou standard offert par la majorité des fabricants de profilomètres et de microscopes^[1],[2], en général sous leur propre marque ; MountainsMap est proposé notamment sous les marques :

• TalyMap, TalyProfile, ouTalyMap Contour sur les profilomètres de Taylor-Hobson,
• PicoImage sur les Microscopes à Force Atomique d'Agilent,
• HommelMap sur les profilomètres de Hommel-Etamic,
• MountainsMap - X sur les microscopes de Nikon,
• Apex 2D ou Apex 3D sur les profilomètres de KLA-Tencor,
• Leica Map sur les microscopes de Leica Microsystems,
• ConfoMap sur les microscopes de Carl Zeiss.

Localisation

• MountainsMap est disponible en anglais, allemand, chinois, coréen, espagnol, français, italien, japonais, polonais et portugais brésilien.
• Le logiciel travaille avec le système métrique (choix Angströms/nanomètres possible) et le système impérial (micro-inch).

Compatibilité

• Le format natif de MountainsMap est le format SURF (extension .SUR).
• MountainsMap est compatible avec la plupart des instruments du marché capables de fournir une image ou une mesure de topographie.
• MountainsMap est conforme à la nouvelle norme ISO 25178 sur l'évaluation en 3D de l'état de surface.

Références

1. ↑ (en)Digital Surf technology on Olympus Microscopes dans Imaging and Microscopy
2. ↑ (en)Surface analysis data to be sold with instruments dansEngineering talk

Liens externes

• (en)New 3D parameters and filtration techniques for surface metrology, François Blateyron, Quality Magazine White Paper
• Site officiel de l'éditeur