Spectrométrie Auger

Spectrométrie Auger

Électron Auger

Page d'aide sur l'homonymie Pour les articles homonymes, voir Auger.

Les électrons Auger sont des électrons émis lors de la désexcitation d'un atome. Ce phénomène a été découvert en 1923 par Lise Meitner mais c'est Pierre Auger qui s'est également intéressé au phénomène quelques années plus tard qui lui a donné son nom.

Lorsqu'un atome est bombardé par des rayons X ou des électrons de forte énergie, un électron est retiré d’une couche interne d’un atome, laissant une place vacante, qu'un électron d’une couche de plus haute énergie peut venir remplir, causant un dégagement d’énergie. Cette énergie peut  :

  • Causer l’émission d’un photon X : fluorescence X
  • Être absorbée par un électron qui sera éjecté de l’atome (électron Auger, effet photo-électrique)

Ce phénomène est utilisé pour faire des analyses élémentaires de surface : c'est la spectrométrie Auger.

Sommaire

Calcul des énergies

En prenant par exemple le cas où un électron est sur la couche électronique K d'énergie EK, après son éjection, un autre électron présent sur la couche L, d'énergie EL descend sur la couche K en émettant un photon de fluorescence. Ce photon va aller frapper un électron sur la couche M, d'énergie EM, qui va quitter l'atome (c'est l'électron Auger).

Alors l'énergie du photon de fluorescence se calcule grâce à la relation: E_K-E_L=E_M+\frac{1}{2}mv^2

Et l'énergie E de l'électron Auger se calcule : E=\frac{1}{2}mv^2=(E_K-E_L)-E_M

Ces calculs approximatifs doivent être raffinés en pratique en tenant compte de nombreuses autres considérations, en particulier dans les applications quantitatives de la spectrométrie Auger (voir la section Liens externes).

Spectrométrie Auger

Un spectromètre Auger est un appareil très semblable à un microscope électronique à balayage ; il permet d'ailleurs de faire des images de type MEB.

L'appareil comporte un canon électronique qui bombarde l'échantillon, et un détecteur d'électrons qui détecte les électrons Auger et détermine leur énergie. L'énergie des électrons permet de déterminer la nature chimique des atomes, et le mode balayage permet de dresser une cartographie chimique de la surface de l'échantillon.

Les électrons Auger ayant une faible énergie, seuls ceux provenant des premières couches atomiques sortent de l'échantillon, c'est donc une méthode d'analyse superficielle. Pour la même raison, il faut travailler en vide poussé (ultra vide, de l'ordre de 10-8 Pa, 10-10 torr).

Par ailleurs, ce sont les éléments légers (faible numéro atomique Z) qui produisent le plus d'électrons Auger, les atomes lourds (Z élevé) produisant surtout des photons X. L'analyse chimique est donc limitée aux éléments légers.

Voir aussi

Liens internes

Liens externes

  • Portail de la physique Portail de la physique
Ce document provient de « %C3%89lectron Auger ».

Wikimedia Foundation. 2010.

Contenu soumis à la licence CC-BY-SA. Source : Article Spectrométrie Auger de Wikipédia en français (auteurs)

Игры ⚽ Нужно сделать НИР?

Regardez d'autres dictionnaires:

  • Spectrometrie de fluorescence X — Spectrométrie de fluorescence X Pour les articles homonymes, voir SFX, FX et XRF. Un spectromètre de fluorescence X Philips PW1606 avec manutention automatiq …   Wikipédia en Français

  • Spectrométrie de fluorescence x — Pour les articles homonymes, voir SFX, FX et XRF. Un spectromètre de fluorescence X Philips PW1606 avec manutention automatiq …   Wikipédia en Français

  • Spectrometrie de masse a ionisation secondaire — Spectrométrie de masse à ionisation secondaire SIMS (Spectrométrie de masse à ionisation secondaire) Le procédé d analyse de surface connu sous le nom de SIMS, d après l acronyme anglais signifiant Secondary Ion Mass Spectrometry consiste à… …   Wikipédia en Français

  • Spectrometrie photoelectronique X — Spectrométrie photoélectronique X La spectrométrie photoélectronique X, ou spectrométrie de photoélectrons induits par rayons X (en anglais, X Ray photoemission spectrometry : XPS) est une méthode physique d analyse chimique mise au point à… …   Wikipédia en Français

  • Spectrométrie photoélectronique x — La spectrométrie photoélectronique X, ou spectrométrie de photoélectrons induits par rayons X (en anglais, X Ray photoemission spectrometry : XPS) est une méthode physique d analyse chimique mise au point à l université d Uppsala (Suède)… …   Wikipédia en Français

  • Spectrométrie de fluorescence X — Pour les articles homonymes, voir SFX, FX et XRF. Un chimiste manipule un goniomètre manuel pour l analyse par spectrométrie de fluorescence X de monocristaux d échant …   Wikipédia en Français

  • Spectromètrie — Spectroscopie On parle de spectroscopie, ou de spectrométrie, pour désigner l étude expérimentale du spectre d un phénomène physique, c est à dire de sa décomposition sur une échelle d énergie, ou toute autre grandeur se ramenant à une énergie… …   Wikipédia en Français

  • Spectrométrie — Spectroscopie On parle de spectroscopie, ou de spectrométrie, pour désigner l étude expérimentale du spectre d un phénomène physique, c est à dire de sa décomposition sur une échelle d énergie, ou toute autre grandeur se ramenant à une énergie… …   Wikipédia en Français

  • Spectrométrie photoélectronique X — La spectrométrie photoélectronique X, ou spectrométrie de photoélectrons induits par rayons X (en anglais, X Ray photoelectron spectrometry : XPS) est une méthode physique d analyse chimique mise au point à l université d Uppsala (Suède)… …   Wikipédia en Français

  • Spectrométrie de masse à ionisation secondaire — La spectrométrie de masse à ionisation secondaire est un procédé d analyse de surface connu sous le nom de SIMS, d après l acronyme anglais signifiant secondary ion mass spectrometry, qui consiste à bombarder la surface de l échantillon à… …   Wikipédia en Français

Share the article and excerpts

Direct link
Do a right-click on the link above
and select “Copy Link”